[发明专利]光学接近传感器

摘要

一种接近传感器，包括：壳体；多个光脉冲发射器，用于沿着一检测平面将光发射出所述壳体；多个主光检测器，用于检测由所述发射器发射的光线通过所述检测平面中的反射物体的反射；多个主透镜，其相对于所述发射器和主检测器取向的方式使得对于每一发射器‑检测器对，当物体在检测平面的一组主位置当中位于一个与那个发射器‑检测器对关联的位置时，由该对中的发射器所发射的光线穿过其中一个主透镜并且由所述物体向后反射通过其中一个主透镜到达该对的检测器；以及用于共激活所述发射器‑检测器对的处理器，并且处理器构造成计算所述物体在所述检测平面中的位置。

主权项

1.一种用于确定反射物体的二维坐标的接近传感器，包括：/n壳体；/n沿着检测平面的一个边缘安装在所述壳体中的多个光脉冲发射器，用于沿着所述检测平面将光发射出所述壳体；/n沿着检测平面的一个边缘安装在所述壳体中的多个主光检测器，用于检测由所述光脉冲发射器发射的光线通过所述检测平面中的反射物体的反射；/n多个主透镜，其在所述壳体中相对于所述光脉冲发射器和所述主光检测器安装和取向的方式使得对于每一发射器-检测器对，当所述反射物体在检测平面的一组主位置当中位于与那个发射器-检测器对关联的特定二维位置时，由该对中的光脉冲发射器发出的光线穿过所述主透镜中的相应第一主透镜并由所述反射物体向后反射通过所述主透镜中的相应第二主透镜而到达该对中的主光检测器，其中所述主透镜被取向成使得对于每个发射器-检测器对，当所述反射物体位于检测平面中的所述关联位置时，由所述对中的光脉冲发射器发出的光以相对于所述第二主透镜的光轴成以θ表示的特定角度被所述反射物体向后反射到所述对中的所述主光检测器；以及/n与所述光脉冲发射器及所述主光检测器连接的处理器，用于同步地共激活所述发射器-检测器对，并且构造成通过以下方法计算所述反射物体在所述检测平面中的二维位置：/n在同步地共激活的发射器-检测器对中确定最大发射器-检测器对，所述最大发射器-检测器对中的主光检测器检测最大量的光，/n识别最大位置，所述最大位置是与所述最大发射器-检测器对关联的位置，/n进一步在同步地共激活的发射器-检测器对中识别附加发射器-检测器对，与所述附加发射器-检测器对相关联的相应的附加位置邻近所述最大位置，/n计算所述最大位置和所述附加位置的加权平均数，其中所述平均数中的每个位置的权重分别与针对所述最大发射器-检测器对或者附加发射器-检测器对反射光束的检测程度相对应，以及/n当在物体移动时由两个相邻主光检测器检测到的来自相同光脉冲发射器的光量之间的比率保持恒定时，推断反射物体正沿着与相对于所述光轴成θ角度平行的方向移动。/n