[发明专利]用于确定待测试光学系统的波前像差数据的方法有效
| 申请号： | 201480033023.0 | 申请日： | 2014-06-09 |
| 公开（公告）号： | CN105283118B | 公开（公告）日： | 2018-01-02 |
| 发明（设计）人： | M·赫尔南德斯卡斯塔涅达斯;G·马林;L·蒂博斯;刘涛 | 申请（专利权）人： | 埃西勒国际通用光学公司 |
| 主分类号： | A61B3/10 | 分类号： | A61B3/10;A61B3/00 |
| 代理公司： | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所11038 | 代理人： | 周博俊 |
| 地址： | 法国沙*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种用于确定待测试光学系统的波前像差数据的方法，该方法包括以下步骤a)提供从该受测试光学系统接收的光的波前感测图像；b)提供表示该光学系统的一个模型，该模型具有表示所述模型的至少一个光学参数；c)根据一个优值函数优化一个波前系数数据集和所述模型的所述至少光学参数，其中，所述优值函数的计算包括以下步骤‑借助于所述至少光学参数和所述波前系数数据集生成从所述模型接收的光的波前感测模型图像；‑基于该波前感测图像的形状参数数据和该波前感测模型图像的形状参数数据来计算一个标准，以便获得该受测试光学系统的波前像差数据。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 确定 测试 光学系统 波前像差 数据 方法 | ||
【主权项】：
一种用于确定待测试光学系统的波前像差数据的方法，该方法包括以下步骤：a)提供从受测试光学系统接收的光的波前感测图像，所述波前感测图像包括感测到的聚焦光斑的阵列；b)提供表示该光学系统的模型，该模型具有表示所述模型的至少一个光学参数；c)根据优值函数优化波前系数数据集和所述模型的所述至少一个光学参数，其中，所述优值函数的计算包括以下步骤：‑借助于所述至少一个光学参数和所述波前系数数据集生成从所述模型接收的光的波前感测模型图像，所述波前感测模型图像包括模型聚焦光斑的阵列；‑基于该波前感测图像的形状参数数据和该波前感测模型图像的形状参数数据来计算标准，以便获得该受测试光学系统的波前像差数据，该标准的计算包括计算至少这些感测到的聚焦光斑的形状参数与这些模型聚焦光斑的形状参数之间的差的步骤。
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