[发明专利]在存储器中筛选参考单元有效
| 申请号： | 201480033825.1 | 申请日： | 2014-06-03 |
| 公开（公告）号： | CN105283922B | 公开（公告）日： | 2018-03-16 |
| 发明（设计）人： | Z·刘;辛迪·孙;贺·易;古尔扎·卡萨瓦拉 | 申请（专利权）人： | 赛普拉斯半导体公司 |
| 主分类号： | G11C29/00 | 分类号： | G11C29/00;G11C16/04 |
| 代理公司： | 北京安信方达知识产权代理有限公司11262 | 代理人： | 周靖,郑霞 |
| 地址： | 美国加利*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 从存储器中的多个阵列中选择阵列作为参考阵列。示例性方法包括评估在参考阵列内的存储器单元以选择与存储器的第一操作相关联的第一参考单元，并重复该评估和该选择以从参考阵列内选择第二参考单元，第二参考单元与存储器的第二操作相关联。 | ||
| 搜索关键词： | 存储器 筛选 参考 单元 | ||
【主权项】：
一种用于在存储器中筛选参考单元的方法，包括：从存储器中的多个阵列当中选择阵列作为参考阵列；评估在所述参考阵列内的存储器单元以选择与所述存储器的第一操作相关联的第一参考单元，所述评估包括：当与一存储器单元相关联的阈值电压在目标阈值电压范围内时，选择该存储器单元作为所述第一参考单元；获得与存储器单元相关联的多个测得的RTN值；通过取在所述参考阵列内的所述存储器单元的两个测得的RTN值之间的差来计算增量RTN值；以及确定所述增量RTN值是否小于所述第一参考单元的预先确定的目标RTN值。
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