[发明专利]硅晶圆的热处理方法有效
申请号: | 201480034727.X | 申请日: | 2014-06-26 |
公开(公告)号: | CN105324834B | 公开(公告)日: | 2017-09-29 |
发明(设计)人: | 曲伟峰;田原史夫 | 申请(专利权)人: | 信越半导体株式会社 |
主分类号: | H01L21/324 | 分类号: | H01L21/324;C30B29/06;C30B33/02 |
代理公司: | 北京路浩知识产权代理有限公司11002 | 代理人: | 谢顺星,张晶 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 本发明是一种硅晶圆的热处理方法,具有将硅晶圆载置于SiC夹具上,放入热处理炉内的工序;在热处理炉内,在第一非氧化性气氛下,对硅晶圆进行热处理的工序;降温到能将硅晶圆从热处理炉内搬出的温度的工序;以及,将硅晶圆从热处理炉内搬出的工序;在降温工序中,在降温到能搬出的温度后,将第一非氧化性气氛切换成含氧气氛,在含氧气氛下,在SiC夹具的表面上形成厚度1~10nm的氧化膜,之后再将含氧气氛切换成第二非氧化性气氛。由此,能提供一种硅晶圆的热处理方法,该热处理方法能防止在热处理工序中来自于夹具和环境的碳污染。 | ||
搜索关键词: | 硅晶圆 热处理 方法 | ||
【主权项】:
一种硅晶圆的热处理方法,其具有以下工序:将硅晶圆载置于SiC夹具上,放入热处理炉内的工序;在所述热处理炉内,在第一非氧化性气氛下,对所述硅晶圆进行热处理的工序;降温到能将所述硅晶圆从所述热处理炉内搬出的温度的工序;以及,将所述硅晶圆从所述热处理炉内搬出的工序;其特征在于,在降温到能将所述硅晶圆从所述热处理炉内搬出的温度的工序中,在降温到能将所述硅晶圆从所述热处理炉内搬出的温度后,将所述第一非氧化性气氛切换成含氧气氛,在所述含氧气氛下,在所述SiC夹具的表面上形成厚度1~10nm的氧化膜,之后再将所述含氧气氛切换成第二非氧化性气氛。
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H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
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