[发明专利]结合光学低相干干涉测量组件的玻璃制造系统有效

专利信息
申请号: 201480036414.8 申请日: 2014-06-25
公开(公告)号: CN105431387B 公开(公告)日: 2019-01-15
发明(设计)人: 焦榆;J·W·麦克卡米;D·哈内坎普 申请(专利权)人: VITRO可变资本股份有限公司
主分类号: C03B17/06 分类号: C03B17/06;C03C17/00;C03B18/04
代理公司: 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038 代理人: 罗闻
地址: 墨西哥*** 国省代码: 墨西哥;MX
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摘要: 浮法玻璃系统(10)包括具有一池熔化金属(16)的浮槽(14)。化学气相沉积涂料器(32)在所述一池熔化金属(16)上方位于浮槽(14)中。涂料器(32)包括至少一个低相干干涉测量探头(38),其位于涂料器(32)中或涂料器上且连接到低相干干涉测量系统(36)。另一低相干干涉测量探头(138)可以位于浮槽(14)的退出端外侧且连接到相同或另一低相干干涉测量系统(36)。
搜索关键词: 结合 光学 相干 干涉 测量 组件 玻璃 制造 系统
【主权项】:
1.一种浮法玻璃系统,包括:具有一池熔化金属的浮槽;在所述一池熔化金属上方位于浮槽中的至少一个光学低相干干涉测量探头;操作性地连接到所述至少一个光学低相干干涉测量探头的光学低相干干涉测量系统;位于所述浮槽中的至少一个化学气相沉积涂料器,所述至少一个光学低相干干涉测量探头连接到所述至少一个化学气相沉积涂料器;以及连接到所述至少一个化学气相沉积涂料器的定位系统。
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