[发明专利]偏振性质成像系统有效
| 申请号： | 201480036523.X | 申请日： | 2014-05-20 |
| 公开（公告）号： | CN105637345B | 公开（公告）日： | 2018-06-12 |
| 发明（设计）人： | 约翰·弗罗伊登塔尔;安迪·利德贝特;王宝良 | 申请（专利权）人： | 海因兹仪器公司 |
| 主分类号： | G01N21/21 | 分类号： | G01N21/21;G01N21/23;G01J4/04 |
| 代理公司： | 中原信达知识产权代理有限责任公司 11219 | 代理人： | 鲁山;孙志湧 |
| 地址： | 美国俄*** | 国省代码： | 美国;US |
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| 摘要： | 本公开通常针对于用于将光学材料样品的偏振性质成像的系统。作为一个方面，提供用于在宽范围的入射角上进行样品材料的面内与面外双折射性质两者的精确、同时成像的系统。除作为优选实施例而论述的面内和面外双折射测量之外，此处所述的空间分辨成像方法适用于宽范围的偏振性质的确定。 | ||
| 搜索关键词： | 偏振性质 成像 双折射性质 成像系统 光学材料 空间分辨 样品材料 入射角 双折射 优选 和面 测量 | ||
【主权项】：
一种在宽范围的入射角上将样品的面内与面外双折射性质同时成像的方法，包括以下步骤：将多个经偏振调制的光线引导到样品位置，使得每一光线具有特定入射角，使得所述多个光线相对于所述样品定义多个入射角；将穿过所述样品的所述光线中的每一个重新引导至成像装置的分离的像素，因此每一光线的强度特性能够被检测到；将与被应用到所述光线的偏振调制对应的经频率合成的波形用作触发信号而对所述成像装置进行选通；以及同时检测与所重新引导的光线中的每一个相关联的所述样品的双折射性质。
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