[发明专利]狭缝扫描相位衬度成像中的校正有效
| 申请号： | 201480036955.0 | 申请日： | 2014-06-27 |
| 公开（公告）号： | CN105338901B | 公开（公告）日： | 2019-03-08 |
| 发明（设计）人： | E·勒斯尔;G·马滕斯 | 申请（专利权）人： | 皇家飞利浦有限公司 |
| 主分类号： | A61B6/00 | 分类号： | A61B6/00;G01N23/20;G21K1/06;G02B5/18 |
| 代理公司： | 永新专利商标代理有限公司 72002 | 代理人： | 李光颖;王英 |
| 地址： | 荷兰艾*** | 国省代码： | 荷兰;NL |
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| 摘要： | 本发明涉及X射线相位衬度成像中的校准。为了移除由于个别增益因子引起的干扰，提供一种用于狭缝扫描X射线相位衬度成像装置的校准滤波器光栅(10)，其包括：第一多个滤波器段(11)，所述第一多个滤波器段包括滤波器材料(12)；以及，第二多个开口段(13)。所述滤波器段和所述开口段被交替布置为滤波器样式(15)。所述滤波器材料由具有结构元件(14)的材料制成，所述结构元件(14)包括微米范围的结构参数。所述滤波器光栅被可移动地布置在相位衬度成像装置的狭缝扫描系统中的干涉仪单元的X射线源光栅(54)与分析器光栅(60)之间。所述狭缝扫描系统被提供具有预准直器(55)，所述预准直器包括多个条棒(57)和狭缝(59)。所述滤波器样式与预准直器样式(61)对齐。 | ||
| 搜索关键词： | 狭缝 扫描 相位 成像 中的 校正 | ||
【主权项】：
1.一种用于在狭缝扫描X射线相位衬度成像装置中将相干X射线转换为非相干X射线的校准滤波器光栅(10)，其包括：第一多个滤波器段(11)，其包括滤波器材料(12)；以及第二多个开口段(13)；其中，所述滤波器段和所述开口段被交替布置为滤波器样式(15)；其中，所述滤波器材料由具有结构元件(14)的材料制成，所述结构元件包括微米范围的结构参数；并且其中，所述滤波器光栅被配置为能够移动地被布置在相位衬度成像装置的狭缝扫描系统中的干涉仪单元的X射线源光栅与分析器光栅之间；并且其中，所述滤波器样式被配置为与所述狭缝扫描系统的狭缝样式对齐。
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