[发明专利]用于制造光电子器件的方法有效

专利信息
申请号: 201480037849.4 申请日: 2014-07-03
公开(公告)号: CN105340087B 公开(公告)日: 2019-04-19
发明(设计)人: M.布兰德尔;M.布格尔 申请(专利权)人: 奥斯兰姆奥普托半导体有限责任公司
主分类号: H01L33/00 分类号: H01L33/00;H01L33/50;H01L33/60;H01L33/48
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 72001 代理人: 臧永杰;杜荔南
地址: 德国雷*** 国省代码: 德国;DE
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摘要: 用于制造光电子器件的方法包括步骤:提供具有布置在光电子半导体芯片的上侧上的掩模层(200)的光电子半导体芯片(100);提供具有布置在载体的表面上的壁(320)的载体(300),所述壁(320)侧向地限制接纳区域;在接纳区域中布置光电子半导体芯片,其中光电子半导体芯片的下侧朝向载体的表面;利用光学反射材料(400)将接纳区域的包围光电子半导体芯片的区域填充直至以下高度,也即所述高度处于光电子半导体芯片的上侧和掩模层的上侧之间;去除掩模层,以便在光学反射材料中创建自由空间;以及将波长转换材料(500)引入到自由空间中。
搜索关键词: 用于 制造 光电子 器件 方法
【主权项】:
1.用于制造光电子器件(10)的方法,具有以下步骤:‑提供具有布置在光电子半导体芯片(100)的上侧(101)上的掩模层(200)的光电子半导体芯片(100);‑提供具有布置在载体(300)的表面(301)上的壁(320)的载体(300),所述壁(320)侧向地限制接纳区域(330);‑在接纳区域(330)中布置光电子半导体芯片(100),其中光电子半导体芯片(100)的下侧(102)朝向载体(300)的表面(301);‑利用光学反射材料(400)将接纳区域(330)的包围光电子半导体芯片(100)的区域(335)填充直至以下高度(410),所述高度(410)处于光电子半导体芯片(100)的上侧(101)和掩模层(200)的上侧(201)之间;‑去除掩模层(200),以便在光学反射材料(400)中创建自由空间(210);‑将波长转换材料(500)引入到自由空间(210)中;其中光电子半导体芯片(100)的提供包括以下步骤:‑提供具有多个光电子半导体芯片(100)的晶片复合体(150);‑在晶片复合体(150)的上侧上布置掩模层(200);‑分离光电子半导体芯片(100)。
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