[发明专利]同轴直接检测LIDAR系统有效
| 申请号： | 201480038528.6 | 申请日： | 2014-05-06 |
| 公开（公告）号： | CN105408764B | 公开（公告）日： | 2019-08-09 |
| 发明（设计）人： | 彼得·约翰·罗德里戈;克里斯蒂安·彼得森 | 申请（专利权）人： | 丹麦科技大学 |
| 主分类号： | G01S7/491 | 分类号： | G01S7/491;G01S17/58 |
| 代理公司： | 北京银龙知识产权代理有限公司 11243 | 代理人： | 范胜杰;李鹤松 |
| 地址： | 丹麦*** | 国省代码： | 丹麦;DK |
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| 摘要： | 本发明涉及一种同轴直接检测LIDAR系统，用于测量速度、温度和/或颗粒密度。该系统包括激光源，用于沿着散发路径发出具有激光中心频率的激光光束。该系统还包括光学传递系统，被布置在激光源的散发路径中，所述光学传递系统被布置用于在测量方向中传递激光光束，所述光学传递系统还被配置用于收集沿着测量方向背向散射的返回信号。最后，该系统包括检测器系统，被布置为接收来自光学传递系统的返回信号，所述检测器系统包括窄带光滤波器和检测器，所述窄带光滤波器具有通带的滤波器中心频率，其中，能够扫描中心激光频率和/或中心滤波器频率。本发明还涉及包括LIDAR系统的飞行器空速测量设备和风力涡轮机空速测量设备。 | ||
| 搜索关键词： | 同轴 直接 检测 lidar 系统 | ||
【主权项】：
1.一种同轴直接检测LIDAR系统，其用于测量速度、温度和/或颗粒密度，所述系统包括：‑激光源，用于沿着散发路径发出具有激光中心频率的激光光束，‑光学传递系统，被布置在激光源的散发路径中，所述光学传递系统被布置用于在测量方向中传递激光光束，所述光学传递系统还被配置用于收集沿着测量方向背向散射的返回信号，以及‑检测器系统，被布置为接收来自光学传递系统的返回信号，所述检测器系统包括窄带带通光滤波器和检测器，所述窄带带通光滤波器具有通带的滤波器中心频率，其中，能够扫描激光中心频率或滤波器中心频率，直接检测是非相干检测。
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