[发明专利]通过使用相衬CT的单色衰减对比图像生成有效
| 申请号： | 201480042933.5 | 申请日： | 2014-07-23 |
| 公开（公告）号： | CN105452852B | 公开（公告）日： | 2019-02-01 |
| 发明（设计）人： | T·克勒;E·勒斯尔;D·谢弗 | 申请（专利权）人： | 皇家飞利浦有限公司 |
| 主分类号： | G01N23/046 | 分类号： | G01N23/046;G01N23/20;A61B6/00;A61B6/03 |
| 代理公司： | 永新专利商标代理有限公司 72002 | 代理人： | 李光颖;王英 |
| 地址： | 荷兰艾*** | 国省代码： | 荷兰;NL |
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| 摘要： | 本发明涉及一种用于X射线相衬成像的方法和装置。所述方法包括以下步骤：根据所测量的相位梯度信息和总衰减信息来计算电子密度；根据所述电子密度来估计康普顿散射对所述总衰减的贡献pc；根据所述总衰减和所述贡献pc来估计光电吸收对所述总衰减的贡献pp；将值pc和pp用于重建康普顿图像和光电图像；通过这两幅图像的线性组合来获得在期望能量的单色图像。 | ||
| 搜索关键词： | 衰减 方法和装置 康普顿散射 单色图像 对比图像 光电图像 光电吸收 两幅图像 期望能量 衰减信息 线性组合 相位梯度 相衬CT 测量 图像 重建 | ||
【主权项】：
1.一种用于生成X射线图像的方法，包括以下步骤：接收(S305)相位梯度信息和总衰减信息，所述相位梯度信息和所述总衰减信息两者都是从相衬图像导出的；基于在所述相衬图像中记录的所述相位梯度信息来计算(S310)电子密度图像；根据所计算的电子密度来估计(S315)康普顿散射对在所述相衬图像中记录的所述总衰减信息的贡献pC；估计(S320)光电吸收对在所述相衬图像中记录的所述总衰减信息的贡献pp；并且针对能量规范(E)，使用pC和pP来重建康普顿散射图像和光电图像并将所述康普顿散射图像和所述光电图像组合(S325)成单色图像(MC)。
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