[发明专利]高分辨率3D荧光显微术有效
申请号: | 201480043416.X | 申请日: | 2014-07-18 |
公开(公告)号: | CN105452931B | 公开(公告)日: | 2018-09-11 |
发明(设计)人: | T.卡尔克布伦纳;I.克莱普 | 申请(专利权)人: | 卡尔蔡司显微镜有限责任公司 |
主分类号: | G02B21/16 | 分类号: | G02B21/16;G02B21/36;G02B27/58 |
代理公司: | 北京市柳沈律师事务所 11105 | 代理人: | 侯宇;孟婧 |
地址: | 德国*** | 国省代码: | 德国;DE |
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摘要: | 本发明涉及一种用于产生样本(2)的高分辨率图像(If)的显微术方法,所述方法具有以下步骤:a)为样本(2)配设在激励之后可统计闪烁地发出特定的荧光射线的物质,或者使用含有这种物质的样本(2),b)使照明射线(10)入射到样本(2)上并且由此激励样本(2)以发出荧光射线,c)沿光轴(OA)将发出荧光射线的样本(2)重复地成像在分辨位置的探测器(5)上,从而得到图像序列(In),d)借助累加功能对图像序列(In)进行处理,所述累加功能分析图像序列(In)内由于闪烁引起的强度波动,并且由此产生所述物质在样本(2)内的局部分布的图像(If),所述图像具有比成像的光学分辨率更高的位置分辨率,其中,e)照明射线(10)这样入射,使得照明射线(10)沿光轴(OA)只在有限的深度区域内激励样本(2)以发出荧光射线。 | ||
搜索关键词: | 样本 荧光射线 图像序列 照明射线 累加 光轴 入射 成像 高分辨率图像 闪烁 图像 光学分辨率 位置分辨率 荧光显微术 高分辨率 功能分析 局部分布 强度波动 深度区域 显微术 探测器 分辨 重复 统计 | ||
【主权项】:
1.一种用于产生样本(2)的高分辨率的图像(If)的显微术方法,其中,所述方法具有以下步骤:a)为样本(2)配设在激励之后可统计闪烁地发出特定的荧光射线的物质,或者使用含有这种物质的样本(2),b)使照明射线(10)入射到样本(2)上并且由此激励样本(2)以发出荧光射线,c)沿光轴(OA)将发出荧光射线的样本(2)重复地成像在分辨位置的探测器(5)上,从而得到图像序列(In),d)借助累加功能对图像序列(In)进行处理,所述累加功能分析图像序列(In)内由于闪烁引起的强度波动,并且由此产生所述物质在样本(2)内的局部分布的图像(If),所述图像具有比成像的光学分辨率更高的位置分辨率,e)照明射线(10)这样入射,使得照明射线(10)沿光轴(OA)只在有限的深度区域内激励样本(2)以发出荧光射线,其特征在于,所述照明射线(10)只入射到横向于光轴(6)的光片(16)内并且由此被限制在有限的深度区域上。
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