[发明专利]磁共振成像装置和磁共振成像方法有效
申请号: | 201480045051.4 | 申请日: | 2014-08-20 |
公开(公告)号: | CN105473069B | 公开(公告)日: | 2018-08-07 |
发明(设计)人: | 花田光;高桥美由纪;冈邦治;泷泽将宏 | 申请(专利权)人: | 株式会社日立制作所 |
主分类号: | A61B5/055 | 分类号: | A61B5/055 |
代理公司: | 北京银龙知识产权代理有限公司 11243 | 代理人: | 范胜杰;曹鑫 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 即使在通过径向采样法进行测量的情况下也能够得到高质量的图像。为此,实施预测量,只提取出回波信号的偏移量中对每个刀锋不同的分量,将因该分量造成的回波信号在k空间中的偏移量反映到重构处理。预测量,按照与在图像取得序列中使用的读出倾斜磁场脉冲相同的脉冲形状施加只将极性改变了正负的读出倾斜磁场脉冲,分别取得回波信号。偏移量作为两个回波信号的相位差的变化量,针对MRI装置的X轴、Y轴、Z轴分别得到偏移量。 | ||
搜索关键词: | 磁共振 成像 装置 方法 | ||
【主权项】:
1.一种磁共振成像装置,其特征在于,具备:图像测量部,其依照径向采样法的脉冲序列,控制读出倾斜磁场脉冲的施加,执行测量用于重构图像的回波信号的图像取得序列来得到测量数据;偏移量计算部,其分离使上述回波信号在k空间上的位置偏移的多个因素,计算每个刀锋的偏移量;k空间坐标计算部,其反映上述计算出的偏移量地修正上述测量数据在非正交坐标系k空间中的坐标,计算修正k空间坐标;以及重构部,其根据上述修正k空间坐标,将上述测量数据再配置到正交坐标系k空间中,重构为图像,上述偏移量计算部根据正极性地施加与在上述图像取得序列中使用的读出倾斜磁场脉冲具有相同脉冲形状的读出倾斜磁场脉冲而得到的正极性回波信号、负极性地施加与在上述图像取得序列中使用的读出倾斜磁场脉冲具有相同脉冲形状的读出倾斜磁场脉冲而得到的负极性回波信号,计算上述偏移量。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于株式会社日立制作所,未经株式会社日立制作所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201480045051.4/,转载请声明来源钻瓜专利网。