[发明专利]用于分类支持的分析方法有效
| 申请号： | 201480045769.3 | 申请日： | 2014-08-05 |
| 公开（公告）号： | CN105474013B | 公开（公告）日： | 2018-09-18 |
| 发明（设计）人： | 芭芭拉·卡夫塞克;彼得·莱德雷尔;彼得·塔尔;扬·范德布加特 | 申请（专利权）人： | 西门子医学诊断产品有限责任公司 |
| 主分类号： | G01N33/49 | 分类号： | G01N33/49;G01N21/49;G01N15/14 |
| 代理公司： | 北京康信知识产权代理有限责任公司 11240 | 代理人： | 余刚;李慧 |
| 地址： | 德国*** | 国省代码： | 德国;DE |
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| 摘要： | 总体上，本发明涉及一种用于分类支持的分析方法、一种用于确定用于该分析方法的分析参数Ys，Ei，Ii，σi的求出方法、一种计算机程序产品和一种用于分类支持的光学分析系统，其中基于第一和第二校准数据能够确定分析参数Ys，Ei，Ii，σi，分析参数根据判别分析的规则提供分类支持，分类支持为了分类、尤其是疾病诊断、分类建议或诊断建议基于光学特征i的、尤其器官分散体的测量值Pi允许其信息内容与阈值Ys相比较。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 分类 支持 分析 方法 | ||
【主权项】：
1.一种用于分类支持的分析方法，具有如下步骤‑求出对于要分类的测试分散体的光学特征(i)的测量值Pi，其中所述测试分散体由分散体介质和分散相形成，并且分散相具有器官材料的细胞或细胞组成部分，‑计算分类系数Y，通过下式限定![]()
其中所述分类系数Y与所述测试分散体的所述光学特征(i)的数量n、相应的所述光学特征(i)的显著性参数li、相应的所述光学特征(i)的平均值Ei和相应的所述光学特征(i)的标准偏差σi相关。
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