[发明专利]用于恒定足迹、恒定GSD、恒定空间分辨率线扫描仪的系统架构在审
申请号: | 201480045874.7 | 申请日: | 2014-06-23 |
公开(公告)号: | CN105473984A | 公开(公告)日: | 2016-04-06 |
发明(设计)人: | K·K·埃利斯 | 申请(专利权)人: | 安立世 |
主分类号: | G01C11/02 | 分类号: | G01C11/02 |
代理公司: | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038 | 代理人: | 张劲松 |
地址: | 美国弗*** | 国省代码: | 美国;US |
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摘要: | 线扫描仪在跨轨道方向上扫描并且在沿轨道方向上在平台上向前移动。该线扫描仪包括形成左阵列的多个检测器和形成右阵列的多个检测器。所述左阵列和右阵列远离在所述沿轨道方向上形成的线倾斜。所述左阵列被配置为当线扫描仪扫描在所述沿轨道方向上形成的线的右侧的表面时检测来自物体的表面的场景辐射。所述右阵列被配置为当线扫描仪扫描在所述沿轨道方向上形成的线的左侧的表面时检测来自所述物体的表面的场景辐射。每个相应的阵列中的检测器被配置为同时检测场景辐射。 | ||
搜索关键词: | 用于 恒定 足迹 gsd 空间 分辨率 扫描仪 系统 架构 | ||
【主权项】:
一种用于扫描物体的扫描仪的检测器阵列,包括:多个检测器,在所述多个检测器中,一半的检测器被线性地布置为左阵列,而另一半的检测器被线性地布置为右阵列,并且所述左阵列和右阵列被几何地布置以形成具有两个相等的ψmax的底角和相交顶点的等腰三角形,其中,ψmax的角度被定义为当所述检测器阵列扫描物体时由扫描仪的几何结构引起的图像旋转的最大量。
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