[发明专利]测量方法

摘要

描述了一种利用诸如机床的坐标定位设备来测量物体的方法。该方法包括以接触触发模式操作该坐标定位设备以测量物体的表面上的一个或多个接触触发测量点(50；100；118)的位置的步骤。该坐标定位设备还被以扫描模式操作，以测量沿着物体的表面上的扫描路径的多个扫描测量点(52)的位置，该扫描模式的测量利用具有接触物体的触针(12)的扫描探头(4)来获得。然后计算出至少一个校正(Δi；V，R；Δr)，该至少一个校正描述接触触发模式的测量与扫描模式的测量之差。这样，利用接触触发测量来校正扫描测量。

主权项

1.一种利用坐标定位设备来测量物体的方法，所述坐标定位设备包括能够以扫描模式和接触触发模式两种模式操作的双重模式探头，所述双重模式探头包括接触物体的触针和用于测量触针偏转的量值的传感器，所述方法包括以下按任何合适的顺序的步骤：a)以接触触发模式操作所述坐标定位设备，以测量所述物体的表面上的一个或多个接触触发测量点的位置，利用所述双重模式探头的所述接触物体的触针和所述传感器来获得所述接触触发测量点；b)以扫描模式操作所述坐标定位设备，以测量沿着所述物体的表面上的扫描路径的多个扫描测量点的位置，利用所述双重模式探头的所述传感器和所述接触物体的触针来获得所述扫描模式的测量；以及c)计算至少一个校正，其描述步骤(a)的所述接触触发模式的测量与步骤(b)的所述扫描模式的测量之差。