[发明专利]用于识别样品状态的方法、用于分析样品的装置和实验室自动化系统有效
申请号: | 201480054660.6 | 申请日: | 2014-10-01 |
公开(公告)号: | CN105593684B | 公开(公告)日: | 2018-12-04 |
发明(设计)人: | S.米勒 | 申请(专利权)人: | 豪夫迈·罗氏有限公司 |
主分类号: | G01N33/49 | 分类号: | G01N33/49;A61B5/157;B01L3/00;G01N21/00 |
代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人: | 邓雪萌;谭祐祥 |
地址: | 瑞士*** | 国省代码: | 瑞士;CH |
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摘要: | 本发明涉及用于识别样品状态的方法、用于分析样品的装置和实验室自动化系统。一种用于自动化识别样品状态的方法,特别是用于识别样品是否被离心的方法。此外,本发明涉及其中应用根据本发明的方法的用于分析样品的装置和实验室自动化系统。 | ||
搜索关键词: | 用于 识别 样品 状态 方法 分析 装置 实验室 自动化 系统 | ||
【主权项】:
1.一种用于借助于装置(100)从预定的一组状态来自动化识别样品(12)状态的方法,其中,所述一组状态包括非混合状态和混合状态,并且其中,所述样品(12)位于沿纵向方向(14)延伸的样品管(10)中,其中,所述方法包括以下步骤:‑沿所述纵向方向(14)在多个不同位置处确定所述样品(12)的至少一种性质;‑基于所确定的性质,确定所述样品管(10)中的所述样品(12)的相的至少一种相类型;以及‑以根据所确定的相类型的方式确定所述样品(12)的状态是非混合状态还是混合状态;‑在确定至少一种性质的步骤期间,在相应的位置处,将所述样品(12)跨越所述纵向方向(14)在第一波长下的第一透射率确定为第一性质,所述第一波长位于400 nm到1200 nm之间,并且将所述样品(12)跨越所述纵向方向(14)在第二波长下的第二透射率确定为第二性质,所述第二波长位于1300 nm到1700 nm之间。
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