[发明专利]半导体装置在审
| 申请号： | 201480058415.2 | 申请日： | 2014-09-10 |
| 公开（公告）号： | CN105765865A | 公开（公告）日： | 2016-07-13 |
| 发明（设计）人： | 早稻仓真树 | 申请（专利权）人： | 丰田自动车株式会社 |
| 主分类号： | H03K17/56 | 分类号： | H03K17/56;H03K17/08;H03K17/687 |
| 代理公司： | 北京金信知识产权代理有限公司 11225 | 代理人： | 苏萌萌;范文萍 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 本发明提供一种半导体装置，具备：晶体管；二极管，其与所述晶体管逆并联连接；检测晶体管，其生成与在所述晶体管中流通的电流相对应的检测电流；检测二极管，其生成与在所述二极管中流通的电流相对应的检测二极管电流；电阻部，其具有与所述检测晶体管的发射极和所述检测二极管的阳极连接的一端以及与所述晶体管的发射极和所述二极管的阳极连接的另一端，在所述电阻部中流通所述检测电流或所述检测二极管电流；电阻值控制单元，其在所述检测电流流通于所述电阻部中时和所述检测二极管电流流通于所述电阻部中时，使所述电阻部的电阻值不同。 | ||
| 搜索关键词： | 半导体 装置 | ||
【主权项】：
一种半导体装置，具备：晶体管；二极管，其与所述晶体管逆并联连接；检测晶体管，其生成与在所述晶体管中流通的电流相对应的检测电流；检测二极管，其生成与在所述二极管中流通的电流相对应的检测二极管电流；电阻部，其具有与所述检测晶体管的发射极和所述检测二极管的阳极连接的一端以及与所述晶体管的发射极和所述二极管的阳极连接的另一端，在所述电阻部中流通所述检测电流或所述检测二极管电流；电阻值控制单元，其在所述检测电流流通于所述电阻部中时和所述检测二极管电流流通于所述电阻部中时，使所述电阻部的电阻值不同。
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