[发明专利]包含基底和光聚合物薄膜的复合件无效

专利信息
申请号: 201480059615.X 申请日: 2014-10-28
公开(公告)号: CN105659323A 公开(公告)日: 2016-06-08
发明(设计)人: M-S.魏泽;H.贝内特;F-K.布鲁德;T.罗勒;D.赫内尔;T.法伊克 申请(专利权)人: 科思创德国股份有限公司
主分类号: G11B7/245 分类号: G11B7/245;G11B7/2535
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 72001 代理人: 邵长准;林森
地址: 德国勒*** 国省代码: 德国;DE
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摘要: 发明涉及包含至少在局部可分离地互相接合的基底和光聚合物薄膜的复合件,其中所述基底包含聚对苯二甲酸乙二醇酯且所述光聚合物薄膜包含三维交联的聚氨酯基质聚合物、书写单体和光引发剂,其特征在于所述基底在式(I)的染料的0.5体积%乙酸丁酯溶液中在23℃下培养7天后式(I)具有L值L1并在所述培养前具有L值L0,其中通过CieLAB测量法测定L值,且L值L1和L0之差符合公式(II)L1-L0 < -0.25  (公式II)。
搜索关键词: 包含 基底 聚合物 薄膜 复合
【主权项】:
包含至少在局部可分离地互相接合的基底和光聚合物薄膜的复合件,其中所述基底包含聚对苯二甲酸乙二醇酯且所述光聚合物薄膜包含三维交联的聚氨酯基质聚合物、书写单体和光引发剂,其特征在于所述基底在式(I)的染料的0.5体积%乙酸丁酯溶液中在23℃下培养7天后式(I),具有L值L1并在所述培养前具有L值L0,其中通过CieLAB测量法测定L值,且L值L1和L0之差符合公式(II)L1‑L0 < ‑0.25    (公式II)。
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