[发明专利]材料的多尺度均匀度分析有效
| 申请号： | 201480059714.8 | 申请日： | 2014-10-16 |
| 公开（公告）号： | CN105683704B | 公开（公告）日： | 2019-03-01 |
| 发明（设计）人： | 埃文·J·瑞博尼克;约翰·A·拉姆瑟恩;大卫·D·米勒 | 申请（专利权）人： | 3M创新有限公司 |
| 主分类号： | G01B11/00 | 分类号： | G01B11/00;G01B11/06;G01B11/24;G01N21/84;G01N21/95 |
| 代理公司： | 中原信达知识产权代理有限责任公司 11219 | 代理人： | 梁晓广;关兆辉 |
| 地址： | 美国明*** | 国省代码： | 美国;US |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明公开了一种用于表征材料均匀度的方法，该方法包括：选择用于测量材料的图像的感兴趣区域内的均匀度的一组尺度；抑制图像中小于在一组尺度内所选择的感兴趣尺度的特征；将图像分割成与感兴趣尺度相等的小块；以及计算每个小块内的均匀度值。 | ||
| 搜索关键词： | 材料 尺度 均匀 分析 | ||
【主权项】：
1.一种用于表征材料均匀度的方法，包括：选择用于测量所述材料的图像的感兴趣区域内的均匀度的一组尺度；用低通滤波器处理所述图像，以抑制所述图像中小于在所述一组尺度内所选择的感兴趣尺度的特征；将所述图像分割成与所述感兴趣尺度相等的小块；以及计算每个小块内的均匀度值。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于3M创新有限公司，未经3M创新有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201480059714.8/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：电磁流量计
- 下一篇：热交换器、热交换器操作方法、热交换器的用途及核设施
