[发明专利]磁控溅射用靶有效

专利信息
申请号: 201480059875.7 申请日: 2014-10-28
公开(公告)号: CN105934532B 公开(公告)日: 2019-09-20
发明(设计)人: 后藤康之;小林优辅;渡边恭伸 申请(专利权)人: 田中贵金属工业株式会社
主分类号: C23C14/34 分类号: C23C14/34;G11B5/851
代理公司: 中原信达知识产权代理有限责任公司 11219 代理人: 鲁雯雯;金龙河
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 发明提供一种漏磁通大、不用担心成膜时的组成发生变动、并且能够在稳定的电压下进行成膜的新型溅射靶。一种溅射靶,其由(1)含有Co和Pt且Pt相对于Co的比例为4~10原子%的Co‑Pt磁性相、(2)含有Co、Cr和Pt且Co与Cr的比率为Cr:30原子%以上、Co:70原子%以下的Co‑Cr‑Pt非磁性相和(3)含有微细分散的金属氧化物的氧化物相构成。
搜索关键词: 磁控溅射
【主权项】:
1.一种磁控溅射用靶,其具有由(1)不含氧化物、含有Co和Pt且Pt的比例为4~10原子%的Co‑Pt磁性相、(2)不含氧化物、含有Co、Cr和Pt且相对于Co和Cr的合计的Co与Cr的比率为Cr:30原子%以上、Co:70原子%以下的Co‑Cr‑Pt非磁性相和(3)含有Co、Cr、Pt以及微细分散的金属氧化物的氧化物相构成的三相结构。
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