[发明专利]具有片上光学增益测量结构的光子电路器件有效

专利信息
申请号: 201480060074.2 申请日: 2014-10-07
公开(公告)号: CN105723578B 公开(公告)日: 2019-06-11
发明(设计)人: J.霍夫里克特 申请(专利权)人: 国际商业机器公司
主分类号: H01S5/00 分类号: H01S5/00;H01S5/10;H01S5/50;H01S5/026
代理公司: 北京市柳沈律师事务所 11105 代理人: 邱军
地址: 美国纽*** 国省代码: 美国;US
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摘要: 发明显著地涉及用于光学增益测量的光子电路器件(100),其包含:基板(10),具有光子电路,该光子电路包含限定沿相同方向对准的两个波导部分的一个或多个波导(71、72);有源增益区(62‑66),位于该基板的顶部上且耦合在该器件中,以通过电泵送或光学泵送产生光;至少两个光耦合器(75、76),经布置以使得该有源增益区的至少一部分位于该光耦合器之间,且配置为耦合位于该有源增益区与该波导部分之间的光;以及部分反射器(90),布置为将沿该相同方向传播的光反射回该增益区的中心,且其中该器件不包含相对于该有源增益区与该部分反射器相对且配置为将光反射回该增益区的中心的任何其他反射器。本发明进一步涉及相关的增益测量方法。
搜索关键词: 具有 光学 增益 测量 结构 光子 电路 器件
【主权项】:
1.一种用于光学增益测量的光子电路器件(100),该光子电路器件(100)包含:‑基板(10),该基板(10)具有光子电路,该光子电路包含一个或多个波导,该波导限定沿相同方向对准的两个波导部分;‑有源增益区(62‑66),该有源增益区(62‑66)位于该基板的顶部上且耦合在该器件中以通过电泵送或光学泵送产生光;‑至少两个光耦合器(75、76),该光耦合器(75、76)布置为该有源增益区的至少一部分位于该光耦合器之间,且该光耦合器(75、76)配置为耦合该有源增益区与所述波导部分之间的光,使得在该有源增益区中产生的光通过该光耦合器而转移到该波导部分;以及‑至少一个部分反射器(90),该至少一个部分反射器(90)经布置在该波导部分中以便将沿所述相同方向传播的光反射回该增益区的中心,且其中,该器件不包含相对于该有源增益区与所述至少一个部分反射器相对且配置为将光反射回该增益区的该中心的任何其他反射器。
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