[发明专利]与颗粒表征有关的改善

摘要

公开了一种颗粒表征装置，包括：光源；样本室；会聚透镜；以及检测器。光源能操作为利用沿着光束轴的光束照射样本室内包括分散颗粒的样本。光束轴穿过样本室的第一壁、穿过样本、并且穿过样本室的第二壁，以通过与样本的交互作用产生散射光。检测器被配置为检测从样本散射的光。样本室的第二壁包括具有凸外表面的透镜，光束轴穿过该透镜。会聚透镜被布置成将离开样本室的散射光会聚并且聚焦在检测器上，并且会聚透镜包括非球面表面。

主权项

1.一种颗粒表征装置，包括：光源；样本室；光学组；以及检测器；其中：所述光源能操作为利用沿着光束轴的光束照射所述样本室内包括分散颗粒的样本，所述光束轴穿过所述样本室的第一壁、穿过所述样本、并且穿过所述样本室的第二壁，以通过与所述样本的交互作用产生散射光；其中，所述光学组被配置为将散射光会聚并且聚焦在所述检测器上，并且所述光学组包括至少一个透镜元件，所述光学组中的所述透镜元件包括沿着透镜元件轴的开放区，并且所述透镜元件被定位成所述透镜元件轴与所述光束轴重合，以使得所述光束穿过所述开放区。