[发明专利]测量具有陡峭折射率区域离子交换玻璃模谱的设备和方法

摘要

揭示了用于测量具有陡峭折射率区域的离子交换玻璃基材的模谱的设备和方法。在耦合棱镜和玻璃基材之间提供界面化流体。对界面化流体厚度进行选择从而使得随着流体厚度的模式双折射的变化降低至可接受水平。耦合棱镜可以在耦合表面上包含棱镜涂层，从而基材‑棱镜界面包括棱镜涂层。耦合棱镜还可包括远离化元件，其作用是限定界面化流体的厚度。

主权项

1.一种对离子交换玻璃基材的TM和TE模谱进行测量的方法，所述离子交换玻璃基材具有块体折射率ns、表面以及具有陡峭且浅的近表面区域R1的折射率分布，所述方法包括：使得折射率n_p的耦合棱镜与基材表面界面化以限定棱镜‑基材界面，使得所述耦合棱镜与基材表面之间具有折射率n_f和厚度d1的界面化流体，其中，n_f≤n_s<n_p，其中，区域R1满足其中，λ是测量光的测量波长；以及将所述测量光导向通过所述耦合棱镜并通过所述界面化流体进入所述基材表面，以及数字式地俘获从所述棱镜‑基材界面反射的TE和TM模谱，其中，所述TM和TE模谱分别包括第一和第二最低阶模，并且厚度d1包括如下厚度范围，其至少使得在存在所述耦合棱镜的情况下测得的TM和TE谱的所述第一和第二最低阶模的模式双折射在该厚度范围内保持不变。