[发明专利]红外线检测元件、以及红外线检测装置、压电体元件在审
申请号: | 201480060933.8 | 申请日: | 2014-10-28 |
公开(公告)号: | CN105705919A | 公开(公告)日: | 2016-06-22 |
发明(设计)人: | 久保敬;野田俊成 | 申请(专利权)人: | 松下知识产权经营株式会社 |
主分类号: | G01J1/02 | 分类号: | G01J1/02;G01J5/34;H01L37/00;H01L41/09;H01L41/113 |
代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人: | 蒋亭 |
地址: | 日本国*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 一种红外线检测元件,其具备检测层叠体,所述检测层叠体具有下部电极层、设于下部电极层上的检测层、和设于检测层上的上部电极层。检测层具有柱状的晶体结构。检测层中,设有偏布于晶体结构的晶界的多个气孔。该红外线检测元件具有高红外线检测性能。 | ||
搜索关键词: | 红外线 检测 元件 以及 装置 压电 | ||
【主权项】:
一种红外线检测元件,其具备检测层叠体,所述检测层叠体具有:下部电极层、设于所述下部电极层上的检测层、和设于所述检测层上的上部电极层,所述检测层具有柱状的晶体结构,在所述检测层,设有偏布于所述晶体结构的晶界的多个气孔。
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