[发明专利]用于检查工件组件的相互位置的系统和方法以及使用这样的系统和方法的设备有效

专利信息
申请号: 201480061901.X 申请日: 2014-11-11
公开(公告)号: CN105745513B 公开(公告)日: 2019-10-18
发明(设计)人: R·奇普里亚尼 申请(专利权)人: 马波斯S.P.A.公司
主分类号: G01B11/27 分类号: G01B11/27;G01B5/00;G01B11/24;G11B5/455
代理公司: 北京润平知识产权代理有限公司 11283 代理人: 邝圆晖;李雪
地址: 意大利*** 国省代码: 意大利;IT
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摘要: 一种用于检查轴承(30)在E块(29)的孔(31)内的轴向位置的系统,优选在HSA的组装过程中,所述系统包括:定位E块的参考系统(3);与轴承接触的联接元件(17);浮动元件(8),其连接到所述联接元件,采取轴承的姿态;两个或多个检测装置,例如光电子检测装置,其与浮动元件配合,并同时在从彼此间隔开的检查区域处检测轴承相对于E块的位置和可能姿态的数量表示;和用于接收和处理所检测到的数量的处理单元(50)。用于检查的相应方法包括以下步骤:将E块和轴承定位成参考系统的可相互移动的部分;同时在从彼此间隔开的至少两个检查区域处检测轴承相对于E块的位置和可能姿态的数量表示;以及处理所检测到的数量。本发明还涉及用于组装HAS的设备和方法,其分别采用上述的用于检查轴承相对于E块的相互位置以及可能姿态的系统和方法。
搜索关键词: 用于 检查 工件 组件 相互 位置 系统 方法 以及 使用 这样 设备
【主权项】:
1.一种检查系统(1,1'),其用于检查工件的第二组件(30)相对于工件的第一组件(29)的相互位置,所述第一组件(29)用于接收所述第二组件(30)的至少部分且适于限定轴线(E),所述检查系统(1,1')包括:‑参考系统(3),其适于限定参考平面和垂直于该参考平面的主轴线(H),以及定位所述工件的所述第一组件使得所述第一组件(29)的所述轴线(E)对准所述主轴线(H);‑检测系统,其适于限定彼此间隔开的至少一个第一检查区域和一个第二检查区域,并且在所述至少第一和第二检查区域处检测指示所述工件的所述第二组件(30)相对于所述工件的所述第一组件(29)的所述相互位置的数量;以及‑处理单元(50),其连接到检测系统,适于接收和处理所述数量以便实时找出有关所述相互位置的信息;其特征在于所述检测系统包括适于限定所述第一检查区域的至少一个第一检测装置,以及适于限定所述第二检查区域的一个第二检测装置,所述至少一个第一检测装置和所述第二检测装置预期同时操作,每一个检测装置在相应的检查区域上,并与所述工件的所述第二组件(30)和所述检查系统(1,1')的特定组件(8,16)二者其中之一配合,所述特定组件(8,16)适于联接到所述第二组件(30)。
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