[发明专利]依赖于角度的X射线衍射成像系统及其操作方法有效
申请号: | 201480063548.9 | 申请日: | 2014-09-12 |
公开(公告)号: | CN106062540B | 公开(公告)日: | 2018-12-18 |
发明(设计)人: | G.哈丁;H.R.O.斯特雷克 | 申请(专利权)人: | 莫福探测仪器有限责任公司 |
主分类号: | G01N23/20 | 分类号: | G01N23/20 |
代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人: | 周学斌;陈岚 |
地址: | 美国加利*** | 国省代码: | 美国;US |
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摘要: | 一种具有系统轴线的x射线衍射成像(XDI)系统,包括至少一个x射线源,其被配置为生成朝向包括至少一种物质的对象引导的x射线。至少一个x射线源还被配置为利用从多个方向到达的x射线来照射在对象内限定的至少一个体元,每一个方向由相对于系统轴线的入射角来限定。该系统还包括至少一个检测器,其被配置为在x射线已经穿过对象之后检测经散射的x射线。该系统还包括耦合到至少一个检测器的至少一个处理器。该处理器被编程为生成对象体元的多个XDI轮廓。每一个XDI轮廓是相关联的入射角的函数。 | ||
搜索关键词: | 依赖于 角度 射线 衍射 成像 系统 及其 操作方法 | ||
【主权项】:
1.一种具有系统轴线的x射线衍射成像(XDI)系统,所述系统包括:至少一个x射线源,其被配置为生成朝向包括至少一种物质的对象引导的x射线,其中所述至少一个x射线源进一步被配置为利用从多个方向到达的x射线来照射在所述对象内限定的至少一个体元,每一个方向由相对于系统轴线的入射角来限定;至少一个检测器,其被配置为在x射线已经穿过所述对象之后检测经散射的x射线;以及至少一个处理器,其被耦合到所述至少一个检测器,所述至少一个处理器被编程为生成对象体元的多个XDI轮廓,其中每一个XDI轮廓是相关联的入射角的函数,其中所述至少一个处理器还被编程为作为入射角的函数而比较至少一个体元的多个XDI轮廓以确定所述多个XDI轮廓之间的相似性的数值测量结果。
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