[发明专利]在仪器校准方面或涉及仪器校准的改进有效
| 申请号： | 201480063550.6 | 申请日： | 2014-11-07 |
| 公开（公告）号： | CN105765364B | 公开（公告）日： | 2021-07-13 |
| 发明（设计）人： | J.P.霍尔;J.B.K.史密斯;I.J.威尔逊;A.P.马洛伊 | 申请（专利权）人： | 马尔文器械有限公司 |
| 主分类号： | G01N15/02 | 分类号： | G01N15/02;G01N15/06 |
| 代理公司： | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人： | 吕传奇;陈岚 |
| 地址： | 英国伍*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 披露了一种对用于光学地表征小尺寸颗粒的样品的设备进行校准的方法，该方法包括以下步骤：(a)将校准颗粒总体的样品引入该设备，该样品(i)基本上是单分散并且(ii)均匀的，并且(iii)具有以每单位体积的数量为单位的已知颗粒浓度；(b)在适当的条件下分析该样品，以便针对设备条件或设置的特定组合来确定所检测到的颗粒的数量以及单独检测和测量的颗粒的平均亮度；(c)将该设备调整为设备条件或设置的新特定组合，并且分析该同一个样品、或者与步骤(a)中相同的校准总体的另一个样品，并且重复步骤(b)的所述分析以便确定在设备条件或设置的该新组合下所检测到的颗粒的数量以及所检测到的颗粒的平均亮度；(d)可选地以设备条件或设置的一个或多个进一步的新特定组合来重复步骤(c)；以及(e)从这些分析得出所检测到的颗粒的亮度对颗粒的数量的校准曲线或查找表，该校准曲线或查找表用于针对未知浓度的颗粒总体的后续分析来校准该设备，以便确定对其浓度的估计。 | ||
| 搜索关键词： | 仪器 校准 方面 涉及 改进 | ||
【主权项】：
一种对用于光学地表征小尺寸颗粒的样品的设备进行校准的方法，该方法包括以下步骤：(a)将校准颗粒总体的样品引入该设备，该样品(i)基本上是单分散并且(ii)均匀的，并且(iii)具有以每单位体积的数量为单位的已知颗粒浓度；(b)在适当的条件下分析该样品，以便针对设备条件或设置的特定组合来确定所检测到的颗粒的数量以及单独检测和测量的颗粒的平均亮度；(c)将该设备调整为设备条件或设置的新特定组合，并且分析该同一个样品、或者与步骤(a)中相同的校准总体的另一个样品，并且重复步骤(b)的所述分析以便确定在设备条件或设置的该新组合下所检测到的颗粒的数量以及所检测到的颗粒的平均亮度；(d)可选地以设备条件或设置的一个或多个进一步的新特定组合来重复步骤(c)；以及(e)从这些分析得出所检测到的颗粒的亮度对颗粒的数量的校准曲线或查找表，该校准曲线或查找表用于针对未知浓度的颗粒总体的后续分析来校准该设备，以便确定对其浓度的估计。
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