[发明专利]触摸传感器检测器系统及方法

摘要

本申请公开了包含内插传感器阵列的触摸传感器检测器系统和方法。所述系统和方法利用了触摸传感器阵列(TSA)，所述TSA配置为经由电偶联至互连阻抗列(IIC)和互连阻抗行(IIR)的可变阻抗阵列(VIA)，检测接近度/接触/压力(PCP)，其中所述IIC偶联至阵列列驱动器(ACD)，所述IIR偶联至阵列行传感器(ARS)。ACD配置为基于列开关寄存器(CSR)来选择IIC，并使用列驱动源(CDS)来电驱动IIC。VIA将来自被驱动的IIC的电流传输给由ARS感测到的IIC。ARS选择TSA的IIR，并基于行开关寄存器(RSR)对IIR状态进行电子传感。ARS感测电流/电压的内插允许对TSA PCP和/或空间位置进行准确检测。

主权项

1.一种触摸传感器检测器系统，包括：(a)触摸传感器阵列TSA；(b)阵列列驱动器ACD；(c)列开关寄存器CSR；(d)列驱动源CDS；(e)阵列行传感器ARS；(f)行开关寄存器RSR；(g)模拟数字转换器ADC；以及(h)计算控制装置CCD；其中所述TSA包括可变阻抗阵列VIA，所述VIA包含VIA列和VIA行；所述VIA配置为使所述TSA内的多个互连阻抗列IIC与所述TSA内的多个互连阻抗行IIR电偶联；所述IIC进一步包括在所述VIA列之间串联电连接的多个单独的列阻抗元件ICIE；所述IIR进一步包括在所述VIA行之间串联电连接的多个单独的行阻抗元件IRIE；所述ACD配置为基于所述CSR在所述TSA内选择所述IIC；所述ACD配置为使用所述CDS电驱动所述选定的IIC；所述ARS配置为基于所述RSR在所述TSA内选择所述IIR；所述ADC配置为感测所述选定的IIR的电状态并将所述电状态转换为感测的数字值SDV；所述电状态由所述VIA内的可变阻抗元件的电流贡献的总和确定，其中每个可变阻抗元件的所述电流贡献由所述VIA列之间形成的分压器、所述VIA行之间形成的电流分路以及所述可变阻抗元件的状态确定，从而对与所述VIA的指定行‑列交叉点产生感测电流；以及所述CCD配置为在所述TSA内的多个位置，从所述ADC对所述SDV进行采样，以形成触摸传感器矩阵TSM数据结构。