[发明专利]防反射光学部件有效
| 申请号： | 201480065363.1 | 申请日： | 2014-12-01 |
| 公开（公告）号： | CN105793740B | 公开（公告）日： | 2017-12-22 |
| 发明（设计）人： | 安田英纪;松野亮;谷武晴 | 申请（专利权）人： | 富士胶片株式会社 |
| 主分类号： | G02B1/113 | 分类号： | G02B1/113 |
| 代理公司： | 中科专利商标代理有限责任公司11021 | 代理人： | 葛凡 |
| 地址： | 日本国*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明得到一种在宽频带下具有防反射效果且具有透射率较高的光学特性的防反射光学部件。本发明的防反射光学部件具有依次层叠如下而成的层叠结构具有大于规定介质的第1折射率的透明基材(10)；含有多个金属微粒(20)的含金属微粒层(12)；及具有大于规定介质的第2折射率的电介质层(14)，多个金属微粒(20)总数的60％以上是直径相对于厚度之比为3以上的扁平金属粒子(20)，扁平金属粒子(20)的主平面在相对于含金属微粒层(12)的表面为0°～30°的范围内面取向，在含金属微粒层(12)中，多个金属微粒(20)以未形成导电路的状态配置，电介质层(14)的厚度为入射光从电介质层(14)的表面侧向层叠结构入射时的电介质层(14)表面上的反射光和电介质层(14)与含金属微粒层(12)的界面上的反射光发生干涉而被抵消的厚度。 | ||
| 搜索关键词： | 反射 光学 部件 | ||
【主权项】：
一种在规定介质中使用的防反射光学部件，其防止规定波长的入射光的反射，其特征在于，具有依次层叠如下而成的层叠结构：具有大于所述规定介质的第1折射率的透明基材；含有多个金属微粒的含金属微粒层；及具有大于所述规定介质的第2折射率的电介质层，所述多个金属微粒的总数的60％以上是直径相对于厚度之比为3以上的扁平金属粒子，所述扁平金属粒子的主平面在相对于所述含金属微粒层的表面为0°～30°的范围内面取向，在所述含金属微粒层中，所述多个金属微粒以未形成导电路的状态配置，所述电介质层的厚度为所述入射光从该电介质层的表面侧向所述层叠结构入射时的该电介质层的表面上的反射光和该电介质层与所述含金属微粒层的界面上的反射光发生干涉而被抵消的厚度。
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