[发明专利]取样位置显示装置及取样方法有效
| 申请号： | 201480066552.0 | 申请日： | 2014-06-16 |
| 公开（公告）号： | CN105814428B | 公开（公告）日： | 2019-04-02 |
| 发明（设计）人： | 新田明;大西道彰;富冈贤一;筒井智大;高木真言 | 申请（专利权）人： | 三菱综合材料株式会社 |
| 主分类号： | G01N1/04 | 分类号： | G01N1/04;G01N1/28 |
| 代理公司： | 北京德琦知识产权代理有限公司 11018 | 代理人： | 杨晶;王琦 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 根据本发明的取样方法，可通过取样位置显示装置(10)的控制部(12)，例如通过个人计算机，随机生成取样试样(G)的取样位置坐标即位置信息，并根据该位置信息，通过激光在成为再生原料一部分的取样试样(G)上显示取样位置。由此，当对用于确定取样试样(G)的平均品位例如有价金属的平均含量的份样进行取样时，能够可靠地排除操作人员人为地选定取样位置的随意性。 | ||
| 搜索关键词： | 取样 位置 显示装置 方法 | ||
【主权项】：
1.一种取样位置显示装置，其在试样上显示取样位置，所述取样位置显示装置具备：激光照射部，向摊开在取样地点上的试样照射激光，并在所述试样上显示任意形状的取样位置标记；及控制部，控制该激光照射部，所述取样位置标记能够任意改变显示形状、亮度及色调，以根据所述试样的整体色调容易辨认的色调且以包围取样位置的区域的方式显示。
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