[发明专利]子采样装置及方法有效
| 申请号： | 201480067636.6 | 申请日： | 2014-12-04 |
| 公开（公告）号： | CN105814429B | 公开（公告）日： | 2018-11-20 |
| 发明（设计）人： | 神裕介;今野义浩;长尾二郎 | 申请（专利权）人： | 国立研究开发法人产业技术综合研究所 |
| 主分类号： | G01N1/08 | 分类号： | G01N1/08;G01N1/00;G01N1/04 |
| 代理公司： | 北京青松知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 11384 | 代理人： | 郑青松 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 子采样装置(100)包括：凸缘部件(110)，其具有与试料容纳容器(10)的容纳空间(11)相连通的贯通孔(114)，形成有与该贯通孔(114)相连通的至少1个第1管路(112)，连接在试料容纳容器(10)的后端面；连接部件(120)，具有与凸缘部件(110)的所述贯通孔(114)相连通的空洞，其一端与凸缘部件(110)的贯通孔(114)连接；圆柱形外壳(130)，其前端与连接部件(120)的另一端连接，在前端附近具有球阀(134)，在后端附近形成有与内部空间(135)相连通的至少1个第2管路(132)；取样管(140)，插设有将内部空间(135)分隔为前方空间(136)与后方空间(138)的隔壁(142)，在前端形成有采集刀片，在圆柱形外壳(130)的内部空间(135)内滑动；试料容器，其与凸缘部件(110)可替换，且与连接部件(120)的一端连接，通过取样管(140)滑动，采集刀片与试料容纳容器(10)的内部的试料(20)接触，进行子采样以使试料(20)保持在前端部，此后将子采样得到的试料(20)容纳在取代凸缘部件(110)而安装的试料容器内。 | ||
| 搜索关键词： | 采样 装置 方法 | ||
【主权项】：
1.一种子采样装置，其特征在于，包括：凸缘部件，其具有与试料容纳容器的容纳空间相连通的贯通孔，形成有与该贯通孔相连通的至少1个第1压力调整路径，连接在所述试料容纳容器的后端面；连接部件，具有与所述凸缘部件的所述贯通孔相连通的空洞，其一端与所述凸缘部件的所述贯通孔连接；圆柱形外壳，其前端与所述连接部件的另一端连接，在所述前端附近具有球阀，在后端附近形成有与所述圆柱形外壳的内部空间相连通的至少1个第2压力调整路径；取样管，插设有将所述内部空间分隔为前方空间与后方空间的隔壁，在前端形成有采集刀片，所述取样管在所述圆柱形外壳的所述内部空间内滑动；试料容器，其与所述凸缘部件可替换，且与所述连接部件的一端连接，通过所述取样管滑动，所述采集刀片与所述试料容纳容器的内部的试料接触，进行子采样以使所述试料保持在前端部，此后将子采样得到的所述试料容纳在取代所述凸缘部件而安装的所述试料容器内。
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