[发明专利]用于缺陷指示检测的方法有效
| 申请号： | 201480067761.7 | 申请日： | 2014-12-01 |
| 公开（公告）号： | CN105980838B | 公开（公告）日： | 2019-04-16 |
| 发明（设计）人： | A·F·费罗;杨兴炜;P·R·D·S·门东卡;C·A·纳菲斯;P·J·霍华德 | 申请（专利权）人： | 通用电气公司 |
| 主分类号： | G01N23/04 | 分类号： | G01N23/04 |
| 代理公司： | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人： | 郑浩;姜甜 |
| 地址： | 美国*** | 国省代码： | 美国;US |
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| 摘要： | 公开了用于检测零件中的潜在缺陷的方法、设备和计算机可读媒体。零件中的潜在缺陷可以自动地被检测，并且可以以各种方式报告给操作员，使得操作员可以回顾缺陷并且采取适当的措施。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 缺陷 指示 检测 方法 | ||
【主权项】：
1.一种用于提供复合零件中的潜在缺陷的通知的基于体积计算机断层造影(VCT)的方法，包括：获取(102)代表所述复合零件的三维(3D)体积的VCT扫描数据；相对于包含光束硬化和/或散射伪影的所述复合零件的生成的背景将所述3D体积进行归一化(220)；在归一化的3D体积中检测(222)所述潜在缺陷的指示；以及输出(112)关于所述指示的信息；所述方法还包括至少部分基于计算机辅助设计(CAD)模型确定(224)检测指示的边界，其中关于所述指示的所述信息包含关于所述边界的信息。
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