[发明专利]用于扫描差分相位衬度系统的相位恢复有效
| 申请号： | 201480069101.2 | 申请日： | 2014-12-03 |
| 公开（公告）号： | CN105828716B | 公开（公告）日： | 2019-05-10 |
| 发明（设计）人： | E·勒斯尔;H·A·帕斯汀克;T·克勒;H·德尔;U·范斯特文达勒;G·马滕斯 | 申请（专利权）人： | 皇家飞利浦有限公司 |
| 主分类号： | A61B6/00 | 分类号： | A61B6/00;G21K1/04;G21K1/06;G02B7/00 |
| 代理公司： | 永新专利商标代理有限公司 72002 | 代理人： | 李光颖;王英 |
| 地址： | 荷兰艾*** | 国省代码： | 荷兰;NL |
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| 摘要： | 一种相位衬度成像装置(MA)和有关的图像处理方法。所述成像装置包括：可移动臂(AR)，其承载探测器(D)；以及，一个或多个干涉仪光栅(G0、G1、G2)。所述成像装置包括硬化器(RGD)，其用于控制至少所述臂(AR)或用于所述光栅(G0、G1、G2)的安装物(GM)的硬度。这允许控制在读出结果的序列中探测到的莫尔图案的漂移。通过使用所述图像处理方法，如此控制的莫尔图案的相位能够被用于校准所述成像装置。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 扫描 相位 系统 恢复 | ||
【主权项】：
1.一种扫描类型的相位衬度放射摄影系统(MA)，包括：基座(PD)；臂(AR)，其能相对于所述基座移动；干涉仪组件，其在所述臂中或所述臂处的安装物(GM)中，所述干涉仪组件包括至少两个光栅(G0、G1、G2)；X射线源(XR)，其用于生成辐射；探测器(D)，其被安装在所述臂中或所述臂处，当所述系统使用时，所述探测器在扫描运动中能移动，以接收所述辐射与所述干涉仪光栅相互作用之后的所述辐射，从而产生由所述探测器通过读出结果的序列能探测的漂移的莫尔强度图案；硬化器(RGD)，其能用于将力施加到所述臂和/或所述干涉仪安装物上，以在所述扫描运动之前或期间改变所述臂和/或所述干涉仪安装物的硬度，以便给予至少两个光栅之间的相对运动，从而提供改变所述莫尔强度图案的局部条纹相位的能力。
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