[发明专利]具有低重量X射线防护体的放射照相平板检测器

摘要

一种放射照相平板检测器和制造具有以下给定次序的层结构的平板检测器的方法：a)闪烁体或光电导层；b)成像阵列；c)基片；d)X射线吸收层，该层包含具有20或更大的原子序数的金属元素和一种或多种非金属元素的化合物，其特征在于X射线吸收层具有对于Am²⁴¹在约60keV的γ射线发射大于0.5的无量纲吸收指数；其中AE(Am²⁴¹ 60keV)=t*(k₁e₁+k₂e₂+k₃e₃+…)，其中AE(Am²⁴¹ 60keV)表示相对于Am²⁴¹的约60keV γ射线发射的X射线吸收层的吸收指数；t表示X射线吸收层的厚度；e₁,e₂,e₃,…表示X射线吸收层中元素的浓度；并且k₁,k₂,k₃…表示相应元素的质量衰减系数，并且如果化合物为闪烁磷光体，则在X射线吸收层和基片之间存在层，并且该层在所述化合物的光发射波长具有10%或更低的光透射率。

主权项

1.一种放射照相平板检测器，所述检测器包括以下给定次序的层结构：a)闪烁体或光电导层(1)b)单成像阵列(2)c)基片(3)d)具有X射线吸收层(4)的X射线防护体，该层包含具有20或更大原子序数的金属元素和一种或多种非金属元素的化合物，其特征在于所述X射线吸收层具有对于Am²⁴¹在约60keV的γ射线发射大于0.5的无量纲吸收指数；其中AE( Am²⁴¹ 60keV)= t*(k₁e₁+k₂e₂+k₃e₃+…)其中AE(Am²⁴¹ 60keV)表示相对于Am²⁴¹的约60keV γ射线发射的X射线吸收层的吸收指数；t表示X射线吸收层的厚度；e₁, e₂,e₃, …表示X射线吸收层中元素的浓度；并且k₁,k₂,k₃…表示相应元素的质量衰减系数，通过选自物理气相沉积、化学气相沉积、溅射、刀涂、旋涂、浸涂、喷涂、丝网印刷和层压的方法将所述X射线吸收层施用到基片上，并且如果所述化合物为闪烁磷光体，则在X射线吸收层和基片之间存在层，并且该层在所述化合物的光发射波长具有10%或更低光透射率，e)下层电子器件(5)，以及其中具有X射线吸收层(4)的X射线防护体位于基片(3)和下层电子器件(5)之间。