[发明专利]基于电磁跟踪器的超声探头校准有效
| 申请号： | 201480069477.3 | 申请日： | 2014-12-16 |
| 公开（公告）号： | CN105828722B | 公开（公告）日： | 2019-10-01 |
| 发明（设计）人： | E·德赫甘马尔瓦斯特;S·巴拉特;A·M·塔赫玛塞比马拉古奥施;G·克莱;J·克吕克尔 | 申请（专利权）人： | 皇家飞利浦有限公司 |
| 主分类号： | A61B8/00 | 分类号： | A61B8/00;A61B8/12 |
| 代理公司： | 永新专利商标代理有限公司 72002 | 代理人： | 李光颖;王英 |
| 地址： | 荷兰艾*** | 国省代码： | 荷兰;NL |
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| 摘要： | 一种采用校准体模(20)、超声探头(10)以及校准工作站(40a)的超声校准系统。校准体模(20)围绕由一个或多个体模跟踪器建立的校准坐标系内的框架组件(21)。在操作中，所述超声探头(10)相对于由一个或多个探头跟踪器建立的扫描坐标系声学地扫描在图像坐标系内的所述框架组件(21)的图像。所述校准工作站(40a)将所述超声探头(10)和框架组件图像(11)定位在所述校准坐标系内，并且根据所述定位来确定所述图像坐标系与所述扫描坐标系之间的校准变换矩阵。 | ||
| 搜索关键词： | 基于 电磁 跟踪 超声 探头 校准 | ||
【主权项】：
1.一种超声校准系统，包括：校准体模(20)，其包含在校准坐标系内的框架组件(21)，其中，所述校准体模(20)包括建立所述校准坐标系的至少一个体模跟踪器；超声探头(10)，其能够用于相对于扫描坐标系声学地扫描在图像坐标系内的所述框架组件(21)的图像，其中，所述超声探头(10)包括建立所述扫描坐标系的至少一个探头跟踪器；以及校准工作站(40a)，其中，所述校准工作站(40a)能够被连接到所述至少一个体模跟踪器和所述至少一个探头跟踪器，以将所述探头定位在所述校准坐标系内，其中，所述校准工作站(40a)能够被连接到所述至少一个体模跟踪器和所述超声探头(10)，以将框架组件图像(11)定位在所述校准坐标系内，并且其中，响应于对所述探头和所述框架组件图像(11)在所述校准坐标系内的定位，所述校准工作站(40a)能够用于确定所述图像坐标系与所述扫描坐标系之间的校准变换矩阵，其中，所述校准体模(20)包括至少一个参考体模跟踪器，并且其中，所述校准工作站(40a)能够被连接到所述至少一个体模跟踪器、所述至少一个探头跟踪器以及所述至少一个参考体模跟踪器，以对所述探头在所述校准坐标系内的所述定位进行校正。
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