[发明专利]光子计数探测器有效
| 申请号： | 201480069483.9 | 申请日： | 2014-12-16 |
| 公开（公告）号： | CN105828718B | 公开（公告）日： | 2021-01-19 |
| 发明（设计）人： | E·勒斯尔;H·德尔;T·克勒 | 申请（专利权）人： | 皇家飞利浦有限公司 |
| 主分类号： | A61B6/03 | 分类号： | A61B6/03;A61B6/00;G01T1/00;H01J35/00 |
| 代理公司： | 永新专利商标代理有限公司 72002 | 代理人： | 李光颖;王英 |
| 地址： | 荷兰艾*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 一种成像系统(100)包括具有焦斑(204)的辐射源(110)，其发出贯穿检查区域(106)的X‑射线光子的射束。所述成像系统还包括光子计数探测器阵列(122)，其探测贯穿检查区域的X‑射线光子的子集。所述成像系统还包括控制器(116)，其响应于在预定强度水平以下的所发出的X‑射线光子的射束的强度的计算出的下降而生成和发射暂停信号，其令所述光子计数探测器阵列暂停探测所述X‑射线光子的所述子集。所述成像系统还包括计数器(136)，其针对多个计数周期中的每个对在对应计数周期中由所述光子计数探测器阵列探测到的所述子集的所述X‑射线光子进行计数。 | ||
| 搜索关键词： | 光子 计数 探测器 | ||
【主权项】：
一种成像系统(100)，包括：具有焦斑(204)的辐射源(110)，其发出贯穿检查区域(106)的X‑射线光子的射束；光子计数探测器阵列(122)，其探测贯穿所述检查区域的所述X‑射线光子的子集；控制器(116)，其响应于在预定强度水平以下的所发出的X‑射线光子的所述射束的强度的计算出的下降而生成和发射暂停信号，所述暂停信号令所述光子计数探测器阵列暂停探测所述X‑射线光子的所述子集；以及计数器(136)，其针对多个计数周期中的每个对在对应计数周期中由所述光子计数探测器阵列探测到的所述子集的所述X‑射线光子进行计数。
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