[发明专利]用于使用太赫兹辐射确定片状电介质样本的至少一种性质的系统

摘要

用于使用太赫兹辐射确定片状电介质样本的至少一种性质的系统包括被配置来输出太赫兹辐射脉冲的至少一个太赫兹发射机，被配置来接收太赫兹辐射脉冲的至少一部分的太赫兹接收机，其中太赫兹接收机被配置来基于由太赫兹接收机接收的太赫兹辐射输出测量的波形，和与太赫兹接收机通信的控制单元。其中控制单元被配置来选择测量的波形中关注的至少一个区域，将测量的波形中关注的至少一个区域与模型波形进行比较，改变模型波形的至少一个参数来最小化模型波形与测量的波形之间的差异。

主权项

1.一种用于使用太赫兹辐射确定片状电介质样本的至少一种性质的系统，所述系统包括：至少一个太赫兹发射机，被配置来向所述片状电介质样本输出太赫兹辐射脉冲；太赫兹接收机，被配置来从所述片状电介质样本接收太赫兹辐射脉冲的至少一部分，其中所述太赫兹接收机被配置来基于由所述太赫兹接收机接收的太赫兹辐射输出测量的波形；控制单元，与所述太赫兹接收机通信并且被配置来接收来自所述太赫兹接收机的所述测量的波形；其中所述控制单元被配置为：选择所述测量的波形中关注的至少一个区域，将所述测量的波形中关注的至少一个区域与模型波形进行比较，改变模型波形的至少一个参数来最小化所述模型波形与所述测量的波形之间的差异，确定所述模型波形的所述至少一个参数以使得所述模型波形与所述测量的波形最佳地匹配，并且，其中所述模型波形的所述至少一个参数包括下列中的至少一个：片状电介质模型的厚度和片状电介质模型的复折射率。