[发明专利]包含折叠式天线装置的物位测量设备有效

专利信息
申请号: 201480071665.X 申请日: 2014-02-11
公开(公告)号: CN105874307B 公开(公告)日: 2019-11-26
发明(设计)人: 罗兰·韦勒;莱温·迪特尔勒 申请(专利权)人: VEGA格里沙贝两合公司
主分类号: G01F23/284 分类号: G01F23/284;H01Q1/22
代理公司: 11290 北京信慧永光知识产权代理有限责任公司 代理人: 曹正建;陈桂香<国际申请>=PCT/EP
地址: 德国沃*** 国省代码: 德国;DE
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摘要: 发明涉及一种用于测量散装材料表面的拓扑的物位测量设备,所述物位测量设备包括折叠式天线装置。天线装置具有折叠状态和展开状态。在将测量设备安装在容器上时,在折叠状态下可通过相对较小的容器开口放入天线装置。在安装测量设备之后,将天线装置展开。由此能够减小安装复杂度。
搜索关键词: 包含 折叠式 天线 装置 测量 设备
【主权项】:
1.一种用于测定散装材料表面的拓扑的测量设备,其包括:/n主体(309),其包括驱动单元(513);/n天线装置(203),其包括发射器元件的阵列,所述发射器元件的阵列用于发射和/或接收测量信号;/n垂直驱动轴(302),其具有界定垂直旋转轴线(311)的垂直纵向延伸,所述垂直驱动轴(302)的第一上端部与所述主体的所述驱动单元(513)连接,其中,所述垂直驱动轴(302)被配置为通过所述驱动单元(513)绕所述垂直旋转轴的所述垂直纵向延伸旋转;/n旋转装置(305),其用于将所述天线装置以能够旋转的方式紧固在所述垂直驱动轴(302)的第二下端部上,使得所述天线装置能够进入折叠状态和展开状态,/n其中,所述天线装置(203)在所述折叠状态中垂直定向,从而减小所述测量设备的机械尺寸。/n
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