[发明专利]带电粒子束装置、样本图像取得方法以及程序记录介质有效

专利信息
申请号: 201480072130.4 申请日: 2014-12-03
公开(公告)号: CN105874558B 公开(公告)日: 2017-08-25
发明(设计)人: 大南佑介;中平健治;田中麻纪;河西晋佐 申请(专利权)人: 株式会社日立高新技术
主分类号: H01J37/22 分类号: H01J37/22;H01J37/16;H01J37/28
代理公司: 北京银龙知识产权代理有限公司11243 代理人: 范胜杰,曹鑫
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明的带电粒子束装置具备数据处理部,其从检测器的信号中除去一次带电粒子束在到达样本以前由于被散射而对一次带电粒子束的斑点形状产生的影响。例如,在用电子显微镜观察处于非真空气氛中的样本(6)的情况下,从通过检测器取得的信号中除去一次带电粒子束由于隔膜(10)或存在于非真空空间(12)中的气体而散射从而对上述一次带电粒子束的斑点形状产生的影响。由此,能够简便地得到高质量的图像。
搜索关键词: 带电 粒子束 装置 样本 图像 取得 方法 以及 程序 记录 介质
【主权项】:
一种带电粒子束装置,其特征在于,具备:带电粒子光学镜筒,其内部被真空排气;样本台,其将样本载置在非真空空间中;检测器,其检测通过向上述样本照射从上述带电粒子光学镜筒出射的一次带电粒子束而得到的二次带电粒子;以及数据处理部,其从上述检测器的信号中除去由于上述一次带电粒子束直到到达上述样本为止被散射而对上述一次带电粒子束的斑点形状产生的影响,上述数据处理部使用上述一次带电粒子束中到达上述样本之前没有被散射的无散射带电粒子束的斑点形状和上述一次带电粒子束中到达上述样本之前被散射了的散射带电粒子束的斑点形状,生成到达上述样本时的上述一次带电粒子束的斑点形状的模型,并使用该模型求出对上述一次带电粒子束的斑点形状产生的影响。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于株式会社日立高新技术,未经株式会社日立高新技术许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201480072130.4/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top