[发明专利]在恶劣环境下监测在TDLAS测量中的端口堵塞的方法和装置有效
| 申请号： | 201480073474.7 | 申请日： | 2014-12-22 |
| 公开（公告）号： | CN105917170B | 公开（公告）日： | 2019-12-24 |
| 发明（设计）人： | 伯纳德·P·马斯特森;迈克尔·约翰·埃斯蒂斯;安德鲁·D·萨佩 | 申请（专利权）人： | 约翰·尊科股份有限公司 |
| 主分类号： | F23N5/08 | 分类号： | F23N5/08 |
| 代理公司： | 11021 中科专利商标代理有限责任公司 | 代理人： | 孙纪泉 |
| 地址： | 美国俄克*** | 国省代码： | 美国;US |
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| 摘要： | 一种监测被附接至工艺室的壁的观察管的堵塞的方法，该观察管在操作上与TDLAS光学头相关联，在观察管与TDLAS光学头之间具有窗口。该方法包括以下步骤：在TDLAS光学头中提供光电传感器，该光电传感器被定位成接收通过工艺室内的光发射过程所发射的光。监测发射信号，该发射信号通过工艺室内的光发射过程所发射的光来产生，该发射信号由光电传感器来接收。确定该发射信号是否正在劣化。 | ||
| 搜索关键词： | 恶劣 环境 监测 tdlas 测量 中的 端口 堵塞 方法 装置 | ||
【主权项】：
1.一种监测被附接至工艺室的壁的观察管的堵塞的方法，所述观察管在操作上与TDLAS光学头相关联，在所述观察管与所述TDLAS光学头之间具有窗口，所述方法包括：/n监测发射信号，所述发射信号由光电传感器生成并代表所述工艺室内的燃烧所发射的光，所述光电传感器位于所述TDLAS光学头中；以及/n基于所述发射信号与在先发射信号的历史的比较，确定所述发射信号是否正在劣化。/n
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