[发明专利]创新纳米孔测序技术有效
| 申请号： | 201480074150.5 | 申请日： | 2014-11-26 |
| 公开（公告）号： | CN106255551B | 公开（公告）日： | 2021-12-24 |
| 发明（设计）人： | S.R.J.布吕克;J.S.爱德华兹;A.诺伊曼;Y.库斯内特索瓦;E.A.门多扎 | 申请（专利权）人： | STC.UNM公司 |
| 主分类号： | B01L3/00 | 分类号： | B01L3/00;C12M1/34;C12Q1/6869;G01N21/64 |
| 代理公司： | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人： | 初明明;黄希贵 |
| 地址： | 美国新*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 用于长阅读、无标记、光学纳米孔长链分子测序的方法和设备。总体来说，本公开描述新颖测序技术，其基于并入纳米通道以使用宽间隔(波长)、～1‑nm孔径“曲折”纳米孔来递送单一长链分子，所述纳米孔充分地减缓易位以便使用光学技术来提供大规模并行、单一碱基解析。使用简单胶状纳米颗粒的新颖、定向自组装纳米制造方案用于在纳米通道顶上形成纳米孔阵列，从而使长链分子展开。在纳米颗粒阵列的表面，工程化等离子/极化声子结构中的强烈局部电磁场允许使用光学技术来进行单一碱基解析。 | ||
| 搜索关键词： | 创新 纳米 孔测序 技术 | ||
【主权项】：
一种用于形成供操控目标长链分子的装置的方法，其包括：提供纳米通道，所述纳米通道具有共同多孔顶盖，所述顶盖包括多个曲折纳米孔；并且经由共形原子层沉积(ALD)将所述多孔顶盖中的所述纳米孔中的一些加以密封。
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