[发明专利]基于SiPM的辐射检测系统和方法有效
| 申请号： | 201480074184.4 | 申请日： | 2014-11-25 |
| 公开（公告）号： | CN105980885B | 公开（公告）日： | 2018-11-02 |
| 发明（设计）人： | J·R·普勒斯顿 | 申请（专利权）人： | 菲力尔探测公司 |
| 主分类号： | G01T1/02 | 分类号： | G01T1/02;G01T1/20;G01T1/208;G01T1/29 |
| 代理公司： | 北京派特恩知识产权代理有限公司 11270 | 代理人： | 康艳青;姚开丽 |
| 地址： | 美国俄克*** | 国省代码： | 美国;US |
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| 摘要： | 公开了一种利用基于硅光电倍增器(SiPM)的辐射检测器检测环境中的辐射的系统和方法的技术。基于SiPM的辐射检测系统可以包括多个检测器组件，每个检测器组件包括响应于进入闪烁体的电离辐射而向相应的SiPM提供光的至少一个闪烁体。所述辐射检测系统可以包括逻辑器件和促进报告、校正和其他过程的多个其他电子模块。所述逻辑器件可适于处理来自SiPM的检测信号以实现不同类型的辐射检测程序。所述逻辑器件还可适于利用通信模块将检测到的辐射报告给指示器、显示器和/或用户接口。 | ||
| 搜索关键词： | 基于 sipm 辐射 检测 系统 方法 | ||
【主权项】：
1.一种系统，包括：一个或多个闪烁体；适于从所述一个或多个闪烁体接收光的至少一个SiPM；以及被配置为与所述至少一个SiPM通信的逻辑器件，其中，所述逻辑器件适于：从所述至少一个SiPM接收检测信号；将所述至少一个SiPM划分为多个逻辑检测器；根据应用于多个逻辑检测器中的相邻逻辑检测器的符合标准处理所述检测信号；通过忽略基本上不符合和不相邻的检测信号来从处理的检测信号确定检测事件；以及从每对符合检测事件的能量和定时响应确定每对符合检测事件的入射角。
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