[发明专利]具有自对准的浮栅和擦除栅的非易失性存储器单元及其制造方法有效

专利信息
申请号: 201480074513.5 申请日: 2014-12-08
公开(公告)号: CN106415851B 公开(公告)日: 2019-08-23
发明(设计)人: B.陈;C.苏;N.杜 申请(专利权)人: 硅存储技术公司
主分类号: H01L21/28 分类号: H01L21/28;H01L29/423;H01L21/336;H01L29/788;H01L27/11521
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 72001 代理人: 申屠伟进;陈岚
地址: 美国加利*** 国省代码: 美国;US
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明公开了一种存储器装置及其制造方法,其中在半导体材料衬底中形成沟槽。源极区形成于所述沟槽下方,并且位于所述源极区和漏极区之间的沟道区包括基本上沿所述沟槽的侧壁延伸的第一部分和基本上沿所述衬底的表面延伸的第二部分。浮栅设置在所述沟槽中,并且与所述沟道区第一部分绝缘以便控制其导电性。所述控制栅设置在所述沟道区第二部分上方并且与其绝缘,以便控制其导电性。所述擦除栅至少部分地设置在所述浮栅上方并且与其绝缘。所述一对浮栅之间的所述沟槽的任何部分不含导电元件,除了所述擦除栅的下部部分之外。
搜索关键词: 具有 对准 擦除 非易失性存储器 单元 及其 制造 方法
【主权项】:
1.一对存储器单元,包括:半导体材料衬底,所述衬底具有第一导电类型和表面;沟槽,所述沟槽形成到所述衬底的所述表面中并包括一对相对的侧壁;第一区域,所述第一区域形成在所述衬底中位于所述沟槽下方;一对第二区域,所述一对第二区域形成于所述衬底中,其中一对沟道区各自在所述衬底中位于所述第一区域与所述第二区域中的一者之间,其中所述第一区域和所述第二区域具有第二导电类型,并且其中所述沟道区中的每一者包括基本上沿相对的沟槽侧壁中的一者延伸的第一部分和基本上沿所述衬底表面延伸的第二部分;一对导电浮栅,所述一对导电浮栅各自至少部分地设置在所述沟槽中、邻近所述沟道区第一部分中的一者且与其绝缘以控制所述一个沟道区第一部分的导电性;导电擦除栅,所述导电擦除栅具有设置在所述沟槽中并且邻近所述浮栅设置且与所述浮栅绝缘的下部部分;以及一对导电控制栅,所述一对导电控制栅各自设置在所述沟道区第二部分中的一者上方且其绝缘以控制所述一个沟道区第二部分的导电性;其中除了所述擦除栅下部部分之外,所述沟槽介于所述一对浮栅之间的任何部分不含导电元件。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于硅存储技术公司,未经硅存储技术公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201480074513.5/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top