[发明专利]半导体装置的制造方法以及玻璃覆盖膜形成装置有效
申请号: | 201480075169.1 | 申请日: | 2014-11-13 |
公开(公告)号: | CN105981141B | 公开(公告)日: | 2018-09-18 |
发明(设计)人: | 长濑真一;小笠原淳;伊东浩二 | 申请(专利权)人: | 新电元工业株式会社 |
主分类号: | H01L21/316 | 分类号: | H01L21/316;H01L21/329;H01L29/868 |
代理公司: | 上海德昭知识产权代理有限公司 31204 | 代理人: | 郁旦蓉 |
地址: | 日本国东京都千*** | 国省代码: | 日本;JP |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明的半导体装置的制造方法包括:玻璃覆盖膜形成工序,在第一电极板14和第二电极板16之间设置具有直径比半导体晶片W的直径小的开口的换装电极板18,同时,在环状电极板18和第二电极板16之间配置半导体晶片W,在向环状电极板18外加低于第二电极板16的电位的状态下,在玻璃覆盖膜形成预定面形成玻璃覆盖膜。根据本发明的半导体装置的制造方法,作为半导体晶片,即使使用在玻璃覆盖膜形成预定面已形成底层绝缘膜的半导体晶片来进行玻璃覆盖膜形成工序,也可以抑制在半导体晶片外周部的玻璃微粒的覆盖效率的低下,因此,能够以高的生产效率制造可靠性高的半导体装置。 | ||
搜索关键词: | 半导体 装置 制造 方法 以及 玻璃 覆盖 形成 | ||
【主权项】:
1.一种半导体装置的制造方法,其特征,包括:半导体晶片准备工序,准备在玻璃覆盖膜形成预定面已形成底层绝缘膜的半导体晶片;以及玻璃覆盖膜形成工序,在储留有使玻璃微粒悬浊在溶媒里的悬浊液的槽的内部,将第一电极板与第二电极板在和所述悬浊液浸渍的状态下对向设置,同时,在所述第一电极板和所述第二电极板之间以所述玻璃覆盖膜形成预定面朝向所述第一电极板的方向配置所述半导体晶片,在此状态下,采用电泳法在所述玻璃覆盖膜形成预定面形成玻璃覆盖膜,其中,在所述玻璃覆盖膜形成工序中,在所述第一电极板和所述第二电极板之间设置具有开口的直径小于所述半导体晶片的直径的环状电极板,同时,在所述环状电极板和所述第二电极板之间设置所述半导体晶片,在向所述环状电极板外加比所述第二电极板的电位更偏向于所述第一电极板的电位一侧的电位的状态下在所述玻璃覆盖膜形成预定面形成玻璃覆盖膜。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于新电元工业株式会社,未经新电元工业株式会社许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201480075169.1/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 同类专利
- 专利分类
H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造