[发明专利]用于电离样品的质谱分析探针和系统有效
申请号: | 201480076440.3 | 申请日: | 2014-12-22 |
公开(公告)号: | CN106102873B | 公开(公告)日: | 2019-09-24 |
发明(设计)人: | 罗伯特·格雷厄姆·库克斯;D·萨卡尔;塔拉皮·普拉迪普;R·玛拉亚南 | 申请(专利权)人: | 普度研究基金会;印度理工学院马德拉斯分校 |
主分类号: | B01D59/44 | 分类号: | B01D59/44;H01J49/16;H01J49/04 |
代理公司: | 北京三友知识产权代理有限公司 11127 | 代理人: | 韩蕾;姚亮 |
地址: | 美国印*** | 国省代码: | 美国;US |
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摘要: | 本发明大体上涉及用于电离样品的质谱分析探针和系统。在某些实施例中,本发明提供一种质谱分析探针,其包括衬底,其中该衬底的一部分涂布有一种材料,其一部分从该衬底突出。 | ||
搜索关键词: | 用于 电离 样品 谱分析 探针 系统 | ||
【主权项】:
1.一种质谱分析探针,其包含纸质衬底,其中所述纸质衬底的一部分涂布有一种导电材料,所述导电材料的一部分从所述纸质衬底突出,使得突出的所述部分充当为电极,其中充当为电极的突出的所述部分经配置以在不会导致分析物断裂的电压下在突出的所述部分处发射含有分析物的微米级溶液液滴。
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