[发明专利]用于对被测设备进行测试的测试装置和方法有效
| 申请号： | 201480077041.9 | 申请日： | 2014-01-30 |
| 公开（公告）号： | CN106068460B | 公开（公告）日： | 2020-10-16 |
| 发明（设计）人： | 约亨·里瓦尔 | 申请（专利权）人： | 爱德万测试公司 |
| 主分类号： | G01R31/319 | 分类号： | G01R31/319 |
| 代理公司： | 北京东方亿思知识产权代理有限责任公司 11258 | 代理人： | 宗晓斌 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 一种用于对被测设备进行测试的测试装置被配置为接收来自被测设备的响应信号并将一个或多个校正函数应用于接收到的响应信号，以至少部分地对被测设备的缺陷进行校正。该测试装置被配置为由此获得被测设备的经校正的响应信号，并对经校正的响应信号进行评估以判断被测设备。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 设备 进行 测试 装置 方法 | ||
【主权项】：
用于对被测设备DUT(102)进行测试的测试装置(100、310、410)，其中所述测试装置(100、310、410)被配置为：接收来自所述DUT(102)的响应信号(103)；将一个或多个校正函数(c(r[n])；γ(r[n]))应用于所接收到的响应信号(103)，以至少部分地对所述DUT(102)的缺陷进行校正，由此获得所述DUT(102)的经校正的响应信号(105、314、504)；对所述经校正的响应信号(105、314、504)进行评估，以判断所述DUT(102)。
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