[发明专利]质谱分析方法和质谱分析装置有效
| 申请号： | 201480077804.X | 申请日： | 2014-03-31 |
| 公开（公告）号： | CN106463338B | 公开（公告）日： | 2019-03-08 |
| 发明（设计）人： | 水谷司朗;中野茂畅 | 申请（专利权）人： | 株式会社岛津制作所 |
| 主分类号： | H01J49/42 | 分类号： | H01J49/42;H01J49/06 |
| 代理公司： | 上海光华专利事务所(普通合伙) 31219 | 代理人： | 梁海莲;余明伟 |
| 地址： | 日本国京*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 本发明的特征在于，在依序测量多种对象离子的质谱分析装置（1）中，包括：存储部（41），其保存有离子飞行时间信息，该离子飞行时间信息是关于上述多种对象离子分别在构成上述质谱分析装置的各部中飞行所需要的时间的信息；以及电压控制部（42），其基于上述离子飞行时间信息，根据与各对象离子到达上述各部的时刻的偏差对应的时间差，将施加于该各部的电压变更为适于该对象离子的电压。 | ||
| 搜索关键词： | 谱分析 方法 装置 | ||
【主权项】：
1.一种质谱分析方法，其特征在于，其使用质谱分析装置依序测量多种对象离子，在与所述多种对象离子分别在构成所述质谱分析装置的各部中飞行所需要的飞行时间对应的时刻，将施加于该各部的电压从适于测量在对象离子之前进行测量的离子的电压变更为适于测量该对象离子的电压；具体为：从保存离子飞行时间信息的存储部读取所述多种对象离子在装置各部中飞行所需要的飞行时间，基于该飞行时间，以对电喷雾电离探针开始施加电压的时刻为基准，求取对其他各部施加电压的时刻的偏差；当变更测量的对象离子时，以与上述偏差对应的时间差将分别对构成质谱分析装置的各部施加的电压变更为适于该对象离子的规定电压。
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