[发明专利]容器轮廓和缺陷轮廓的识别在审
| 申请号： | 201480077943.2 | 申请日： | 2014-06-03 |
| 公开（公告）号： | CN106164626A | 公开（公告）日： | 2016-11-23 |
| 发明（设计）人： | 罗兰·韦勒 | 申请（专利权）人： | VEGA格里沙贝两合公司 |
| 主分类号： | G01F17/00 | 分类号： | G01F17/00;G01F23/284;G01F23/296 |
| 代理公司： | 北京信慧永光知识产权代理有限责任公司 11290 | 代理人： | 王新春;曹正建 |
| 地址： | 德国沃*** | 国省代码： | 德国;DE |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明涉及一种用于测定填充材料(107)的体积或质量的方法，其中首先在不存在填充材料的情况下采取空轮廓检测模式，然后在存在填充材料的情况下采取体积或质量测定模式。在所述空轮廓检测模式中，从通过扫描容器表面获得的回波曲线生成缺陷轮廓。然后，在所述体积或质量测定模式中测定所述填充材料的体积或质量时考虑所述缺陷轮廓。这使得可以更精确地测定所述填充材料的体积或质量。 | ||
| 搜索关键词： | 容器 轮廓 缺陷 识别 | ||
【主权项】：
一种用于测定填充材料(107)的体积或质量的方法，包括以下步骤：在不存在填充材料的情况下采取空轮廓检测模式；在不同方向上向所述填充材料的表面发射传输信号；接收至少在所述填充材料的表面上被反射的传输信号；从被反射并且随后被接收的传输信号生成回波曲线，并且检测相关传输信号沿其反射的对应方向；从这些回波曲线测定干扰点轮廓，所述干扰点轮廓对应于干扰物体的位置；当存在填充材料时采取体积或质量测定模式；生成另一些回波曲线；从所述另一些回波曲线并考虑所述干扰点轮廓来测定所述填充材料的体积或质量。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于VEGA格里沙贝两合公司，未经VEGA格里沙贝两合公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201480077943.2/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：一种道桥施工用警示牌
- 下一篇：车载雷达支架
