[发明专利]用于检测和定量样品中的硒和硅的系统和方法有效
| 申请号： | 201480077964.4 | 申请日： | 2014-06-02 |
| 公开（公告）号： | CN106170844B | 公开（公告）日： | 2019-11-12 |
| 发明（设计）人： | 哈米德·巴迪;肯尼思·诺伊鲍尔 | 申请（专利权）人： | 珀金埃尔默健康科学公司 |
| 主分类号： | H01J49/00 | 分类号： | H01J49/00 |
| 代理公司： | 北京律盟知识产权代理有限责任公司 11287 | 代理人： | 林斯凯 |
| 地址： | 美国马*** | 国省代码： | 美国;US |
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| 摘要： | 本发明提供用于改良样品中的硒(Se)和/或硅(Si)的检测和/或定量的方法和系统。在某一实施例中，所述方法和系统特征在于使用二氧化碳(CO2)作为电感耦合等离子体质谱仪ICP‑MS的反应单元室(例如动态反应单元DRC)中的反应气体。发现使用CO2作为反应气体有效地消除(或大体上减少)针对分析物Se和Si的干扰离子物质，在具有复杂基质的样品和/或具有低含量分析物的样品中尤其如此，由此使能够对处于较低检测极限和在具有复杂基质的样品中的分析物进行更精确检测。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 检测 定量 样品 中的 系统 方法 | ||
【主权项】：
1.一种产生用于检测和/或定量样品中的硒(Se)的离子物料流的方法，所述方法包含：向电离源引入样品，由此产生包含多种离子物质的电离样品物料流，所述多种离子物质包含：(i)一或多种分析物离子物质，所述一或多种分析物离子物质为所述样品中存在的一或多种所关注物质的电离形式，所述一或多种所关注物质包含硒，并且所述一或多种分析物离子物质包含Se+；以及(ii)一或多种干扰源离子物质，所述一或多种干扰源离子物质的标称m/z与Se+的标称m/z大体上相等；容许所述电离样品物料流进入腔室，由此使所述电离样品物料流与包含CO2的反应气体物料流接触，由此使所述CO2与所述一或多种干扰源离子物质中的至少一者反应并且产生一或多种并非干扰源离子物质的产物；以及所述电离样品物料流与所述包含CO2的反应气体物料流接触之后，将所得产物物料流引导到质量分析仪和检测器来检测和/或定量所述样品中的硒。
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