[发明专利]相关失效的检测有效
申请号: | 201480078115.0 | 申请日: | 2014-02-19 |
公开(公告)号: | CN106574945B | 公开(公告)日: | 2019-09-06 |
发明(设计)人: | T.泽特勒;K.赫富尔特 | 申请(专利权)人: | 英飞凌科技股份有限公司 |
主分类号: | G01R31/28 | 分类号: | G01R31/28;G05B9/03 |
代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人: | 申屠伟进;杜荔南 |
地址: | 德国瑙伊比*** | 国省代码: | 德国;DE |
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摘要: | 提供装置和方法,所述装置和方法方便检测干扰参数位于预定范围之外。这种干扰参数可例如在冗余电路(例如,布置在同一基底上的冗余电路)中引起相关失效。 | ||
搜索关键词: | 相关 失效 检测 | ||
【主权项】:
1.一种相关性破坏电路,包括:感测元件,对至少一个干扰参数敏感;输出,与感测元件耦合,在所述输出处的信号取决于所述至少一个干扰参数,从而使得如果所述干扰参数位于指定范围之外,则检测到故障状态,以及晶体管,耦合在参考电势和所述输出之间,晶体管的控制输入与感测元件耦合。
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